H1

ICリードスキャナー

汎用DB:詳細
半導体検査装置(測定装置)

概要

QFPなどICチップのリード部分の欠落・曲がりなどをレーザーセンサにより、高速外観検査を行う装置です。

トレイからローディングされたICチップを検査ステージに搬送し、ICリードの欠落・曲がりなどを検査し、良品/不良品に選別し、トレイへ収納するまでフルオートで稼働します。

特長

●自社開発のレーザー検査ユニットを搭載し、高速検査を実現しました。
●ICパッケージの形状に合わせ、各専用機を製作しています。

ICリードスキャナー

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