H1

半導体後工程用露光装置 DE

h1背景画像
製品詳細・日
露光装置半導体後工程用露光装置直描式露光装置 DE半導体露光

最先端半導体のFOパッケージ、有機パッケージ基板(先端BGA)などに向けた直描式露光装置


【DE-2 外観画像】

型式

DE-2 / DE-8

特長

最先端半導体のFOパッケージ、有機パッケージ基板(先端BGA)などの製造向け WLP向け直描式露光装置「DE-2 W300」、PLP向け直描式露光装置「DE-2 P600」
 
高精度ステージを採用しオーバーレイ:±1μmを、最新鋭光学系を搭載しL/S:2/2μmを達成することで、最先端半導体のFOパッケージ、有機パッケージ基板生産で求められる高精度高解像度を実現しました。
米国デカ テクノロジー(Deca Technologies)社のAdaptive PatterningTMとの統合により、マルチチップFOにも対応が可能となります。

≪主な製品仕様≫

 

タブV2

再検索

フリーワード検索
製品種別
フリーワード検索
分野・業界
フリーワード検索
機能・用途
製品・資料ダウンロードに関するお問い合わせ

製品・資料ダウンロードに関するお問い合わせ