めっきスルーホール検査機

PAVIS-PTH

半導体パッケージ及びPCB製品上のレイヤー間導通はより微細化しており、これらの微細なスルーホールの不具合検出に最適化した高解像度光学系を搭載しました。
ホール内の異物検査、クラックや傷など確認を画像イメージ確認できると共に、各箇所の計測値を取得します。

＜専用透過テーブルを採用＞
　均一な吸着力を維持するとともにガラス材でカバー密着をおこないます。ガラス材は適切に照明透過と照度分布を行ないます。